AOI Tester cho thử nghiệm dây vàng, thử nghiệm chip, thử nghiệm cảm biến, phương pháp thiết kế hai gauge

Chương trình thử nghiệm

Kiểm tra dây vàng:

Kích thước quả bóng vàng, Giới hợp đồng hàn,Golf quả bóng lập dịGiới hợp đồng hàn không dính,Giới hợp đồng hàn,Mất cầu nối,BallPlanting,Giới hợp đồng hàn,Giới hợp đồng hàn đối tượng nước ngoài,Loss của nhôm,Các khớp hàn chồng chéo, Lớp phủ bảo vệ bị hư hại,đối nối hàn vỡ,mất vàng trong ngón tay vàng,bầu phẳng lớn,không hàn←

Sợi dây, hàn sai dây, hàn thiếu dây, dây bị hỏng,

dây bước, dây cầu, dây vàng còn lại, dây hàn

dây đai trộn lẫn, thả;

Kiểm tra chip

Kiểm tra chip wafer

Kiểm tra chip wafer

Thiết bị thử nghiệm gói bán dẫn

Phương pháp thiết kế hai đường ray (chính hình và đánh dấu đều là hai đường ray một đầu)

Công nghệ hình ảnh toàn tấm siêu chính xác

dựa trên công nghệ ghép liền mạch toàn tấm nhận ra chính xác cao số lượng giá trị đo lường như trượt và góc covariance.

Khả năng kiểm soát đo lường ở mức μ

Hệ thống điều khiển vòng kín để đảm bảo độ chính xác vị trí <1um.

Điều khiển IO điện tử

Thời gian sử dụng dài, ổn định và im lặng; đèn LED cho thấy trạng thái.

Hệ thống thị giác

Máy ảnh công nghiệp

Máy ảnh kỹ thuật số công nghiệp đa khung hình tốc độ cao được sử dụng.

Hệ thống quang viễn trung

Độ sâu trường ảnh cao, biến dạng thấp, toàn pixel, thiết kế độ phân giải cố định.

Bộ điều khiển nguồn ánh sáng điện liên tục

Bộ điều khiển điện tử dòng điện liên tục vòng kín đầy đủ để đảm bảo sự ổn định và đồng nhất độ sáng của nguồn ánh sáng.

SPC kiểm soát quy trình

1. Thống kê CPK, giá trị trung bình, độ lệch cực, độ lệch chuẩn, giá trị lớn, giá trị nhỏ của sản phẩm.

2. Biểu đồ điều khiển tùy chỉnh của các quy tắc mất kiểm soát, và báo động nhắc.

3. ghi lại nguyên nhân của điểm ngoài tầm kiểm soát và các biện pháp xử lý, lưu trong cơ sở dữ liệu.

Các thông số kỹ thuật